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11月如皋-半材标委-年会资料
2020-11-20 16:11:24

行业标准《碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》编制说明（讨论稿）.doc

行业标准《碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》（讨论稿）.doc

国家标准《硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法》编制说明（送审稿）.doc

国家标准《硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法》（送审稿）.docx

国家标准《多晶硅和锗单位产品能源消耗限额》编制说明（送审稿）.doc

国家标准《多晶硅和锗单位产品能源消耗限额》（送审稿》.doc

国家标准《半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法》编制说明（讨论稿）.docx

国家标准《半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法》（讨论稿）.docx

20201123团体标准《半导体硅材料行业用高纯丁腈手套》（讨论稿）.doc

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