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6月武汉—半材标委—会议资料（6.4-6.6）
2024-05-30 16:33:50

半导体洁净室空气分子污染物（AMC）掺杂剂B和P测定电感耦合等离子体质谱法（编制说明）.pdf

半导体洁净室空气分子污染物（AMC）掺杂剂B和P测定电感耦合等离子体质谱法（预审稿）.pdf

半导体洁净室水溶性空气分子污染物（AMC）的测定离子色谱法（编制说明）.pdf

半导体洁净室水溶性空气分子污染物（AMC）的测定离子色谱法（预审稿）.pdf

硅片硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧减少法-征求意见稿-编制说明.pdf

硅片氧沉淀特性的测试间隙氧含量减少法-征求意见稿.pdf

国家标准-非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法-讨论稿.pdf

团体标准-蓝宝石晶体生长隔热用氧化锆纤维屏-编制说明-预审稿.pdf

团体标准-蓝宝石晶体生长用氧化锆纤维屏-预审稿.pdf

1-1、团体标准—绿色设计产品评价技术规范高纯二氧化锗（预审稿）.pdf

1-2、团体标准—绿色设计产品评价技术规范高纯二氧化锗—编制说明（预审稿）.pdf

2-1、团体标准—绿色设计产品评价技术规范锗单晶和锗单晶片（预审稿）.pdf

2-2、团体标准—绿色设计产品评价技术规范锗单晶和锗单晶片—编制说明（预审稿）.pdf

国家标准- LED外延芯片用砷化镓衬底-编制说明-预审稿.pdf

国家标准- LED外延芯片用砷化镓衬底-预审稿.pdf

国家标准-半导体材料透过率测试方法-编制说明-讨论稿.pdf

国家标准-半导体材料透过率测试方法-讨论稿.pdf

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